JAI 重磅上新！Wave 系列短波红外线扫相机，解锁工业检测 “透视眼”

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更新时间：2026-06-11

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在工业检测领域，可见光相机常常束手无策：塑料内部的气泡、果蔬的早期霉变、晶圆的亚表面裂纹、黑色塑料的材质区分…… 这些 “隐形缺陷" 正成为制约产线效率与产品品质的关键瓶颈。

近日，JAI 正式推出Wave 系列全新力作 ——WAL-1001-GE（1K）与 WAL-2001-GE（2K）高性能短波红外线扫描相机，搭载高灵敏度短波红外成像技术与标准 GigE Vision 接口，以 “透视级" 成像能力攻克复杂工业检测难题，为智能制造注入全新视觉动力。

🔍 新品速览：两款型号精准覆盖不同需求

全新 Wave 系列两款产品采用统一的工业级设计与核心成像技术，仅在分辨率与行频上做差异化配置，可灵活适配不同精度与速度要求的检测场景：

两款相机均采用12.5×12.5 μm 大像元尺寸设计，带来超高信噪比与优异的红外光谱响应，即使在低光照环境或高速产线检测中，也能输出清晰稳定的图像。

更值得一提的是，其峰值量子效率高达 83%，覆盖整个短波红外光谱范围，在保证高灵敏度的同时绝不损失画质，让以往难以捕捉的微弱信号清晰呈现。

支持8、10、12、14 位多种单色输出模式，可根据不同检测需求灵活配置，精准还原亮度信息，实现平滑自然的灰度过渡。这一特性在弱光条件下的高精度测量场景中尤为重要，能显著提升微小缺陷的检出率。

凭借短波红外成像能力，Wave 系列新品可穿透可见光无法穿透的物质，识别表面以下的缺陷与材质差异，广泛应用于以下五大工业检测领域：

可检测果蔬内部水分含量、污染物及异物杂质，同时依据磕碰损伤、成熟度、早期霉变情况完成精准品质分级。借助短波红外成像，还能轻松区分外观肉眼难以分辨的同类产品，大幅提升分选效率与准确率。

能够识别由热应力引发的晶圆亚表面隐性裂纹，检测表面涂层与残留污渍；更可透过硅材质清晰识别对位标记，实现晶圆的精准对准与定位，为半导体制造提供可靠的视觉保障。

在高速输送流水线上，可快速识别并分拣 PET、PE、PP、PS 等各类塑料材质，尤其擅长解决可见光、近红外视觉难以区分的黑色及深色塑料分拣难题，助力再生资源行业实现高效自动化分选。

适用于高速产线上药瓶、安瓿瓶、泡罩包装的在线连续检测，可精准校验灌装液位，同时检出缺装、灌装异常及残次产品，保障药品生产的安全性与一致性。

对透明及非透明材质包装的热封封口宽度、均匀性、强度进行全面检测，同时能够精准识别气泡、褶皱、封合不良等封口缺陷，穿透可见光无法分辨的封条，清晰呈现内部结构特征。

此次 JAI Wave 系列两款短波红外线扫相机的发布。凭借高灵敏度、高可靠性与易集成的核心优势，它们将成为解决各类 “疑难杂症" 工业检测问题的利器，助力更多行业实现智能化升级。

目前，WAL-1001-GE 与 WAL-2001-GE 已正式上市，如需了解更多产品详情或申请样品测试，欢迎联系我们的技术团队。